評価・解析

　主としてメモリデバイスの評価・解析を行っています。電気特性解析から閾値異常・リーク現象などの特異性を導き出し、故障モードを推察。故障箇所を絞り込み、物理解析にて微細構造や、局所領域での組織分布等を明らかにします。これらの解析結果を基に、どの工程で異常が発生したのかを究明し、製品の信頼性向上・歩留まり向上・開発促進に寄与することで顧客満足の向上に繋げます。

◯評価・テスト

◯故障解析

◯その他